标签：良率问题

100%英伟达的错：黄仁勋确认Blackwell缺陷修复，明年初出货

英伟达的Blackwell AI芯片自3月份发布以来，因其设计缺陷导致良率低下，引起了全球科技公司的广泛关注。CEO黄仁勋在与高盛的会议中宣布，这一设计缺陷已得到...

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4小时前