重磅！泰瑞达与昂科技术达成战略合作，共握中国存储测试产业新变量

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文章摘要

2025年6月17日，全球半导体自动测试设备领军企业泰瑞达与昂科技术正式签署战略合作协议，标志着半导体测试领域迈入新的里程碑。此次合作在深圳昂科技术总部举行，双方高层领导、半导体行业协会代表及重要客户共同见证了这一重要时刻。随着AI、5G、IoT及汽车芯片等领域的快速发展，半导体产业正经历重大结构调整，先进封装和异构集成技术的复杂需求使得测试资源、方法及设备成为提升核心竞争力的关键要素。

泰瑞达与昂科技术的合作将为中国存储半导体产业链提供更快速、完整且具成本效益的测试解决方案。双方将充分发挥各自优势，使测试方案覆盖存储芯片的设计、制造、封装测试到模块生产的全流程，满足中国客户的多样化需求。泰瑞达通过昂科的支持，能够更全面地覆盖直销团队的销售服务范围，确保不同规模的企业都能获得最适配的测试支持。昂科则通过泰瑞达的支持，构建了芯片测试全周期的产品和服务，涵盖从硅后验证、晶圆测试、封装测试、系统级测试、老化测试到烧录的全系列解决方案，帮助客户快速上市并提升测试技术水平。

泰瑞达亚太区销售副总裁Richard Hsieh强调，Magnum测试平台以其卓越性能成为存储测试领域的领导者，能够覆盖所有存储测试需求，并通过更高的同测数量、更短的测试时间、更高的测试精度以及更低的总体生产成本，为客户带来显著竞争优势。Richard指出，泰瑞达与昂科的合作是优势互补的强强联合，通过整合双方在测试设备、接口技术、本地化服务与市场覆盖方面的专长，能够为客户提供更快速响应、更完整覆盖、更具成本效益的完整测试方案。这将帮助客户在激烈的市场竞争中抢占量产先机，赢得更高的市场份额并创造更丰厚的利润。

昂科技术CEO黄斌华表示，与泰瑞达的合作是昂科构建“国际领先测试技术+本土产品方案创新”的存储全栈式测试解决方案商业范式的实践。昂科开发的V系列全自动老化测试机及堆栈式SLT产品，极大地提升了客户老化测试和系统级测试的效率和覆盖率，尤其在LPDDR5、DDR5、HBM、NAND、SSD、UFS测试中表现优异。黄斌华强调，双方将通过ATE与ABI、SLT测试方案的协同，解决客户在技术、成本、质量上的痛点，为存储芯片客户创造最大化价值。

当前半导体市场竞争日益激烈，企业唯有持续提升技术附加价值与服务能力，才能实现稳健发展与永续经营。泰瑞达与昂科的合作正是致力于此，助力中国存储产业客户提升核心竞争力。业内人士认为，这一合作或将成为半导体测试领域跨国协作的典范，其后续发展值得持续关注。签约仪式后，与会嘉宾参观了昂科技术新落成的办公区，双方表示将携手推动存储测试技术革新，助力全球半导体产业发展。